粉塵粒度分析儀/粉塵分散度測(cè)定儀KMK-MD1

KMK-MD1型粉塵粒度分析儀/粉塵分散度測(cè)定儀采用斯托克斯原理和比爾定律進(jìn)行分析檢測(cè)，能準(zhǔn)確測(cè)定粉塵粒度分布。與常規(guī)方法相比省去天平稱重和顯微鏡數(shù)數(shù)等繁雜工作。讀數(shù)直觀，測(cè)定結(jié)果自動(dòng)儲(chǔ)存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結(jié)果通過(guò)顯示屏或打印機(jī)輸出。儀器具有掉電保護(hù)功能，可儲(chǔ)存40 次粒度分布數(shù)據(jù)，儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)可根據(jù)用戶意圖進(jìn)行清除。

 

技術(shù)參數(shù)：

 

1.粉塵粒度分布測(cè)定范圍：0∽150µm。測(cè)定粉塵累積質(zhì)量篩上分布，粉塵粒度分級(jí)為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1µm。

 

2.測(cè)定誤差：d<40µm時(shí)，粉塵粒度分布重復(fù)測(cè)定誤差≤10%，粉塵粒度測(cè)量誤差(用GBW(E)120004a微粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)為試驗(yàn)粉塵):d50=10μm～13μm.

 

③工作電源：220V AC；

④外形尺寸：（430×285×300）mm；

⑤質(zhì)量：15kg